GEK-D 数字测厚仪是一种集光、机、电、算为一体的高精度数字测厚仪，操作方便。测量结果为数字显示。并且可以连接计算机进行自动控制。主要用于对塑料薄膜，纸张等材料厚度测量或比较测量。

符合标准

ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。

产品特点

测量精确，运行可靠，测量分辨率高达0.1微米；

支持手动、自动双重测量模式；

可单点测试也可多点测试

自动进样间距、测量点数可调； 

液晶显示，可微机打印测试结果； 

测量过程即时显示最大值、最小值、平均值及当前值; 

可连接计算机,专业软件支持（可选）。

技术参数

测量范围：0~5mm 
分 辨 率：0.1μm 
进样间距：0~1000mm 
测量点数：0~10点 

测量力：0.5N

测量头：Φ5mm（可定制）

工作温度:0～40℃
电压：220V  50Hz 

配置

主机一台、电源线一根、测试头一支